Pacote de análise de dados de microlitografia capaz de encaixar conjuntos de dados do tipo Bossung, também conhecidos como matrizes de exposição ao foco. Palavras-chave: Litografia, Fotolitografia, Fotoressista, Janela do Processo, Dimensão Crítica, CD, Bossung, FEM
história da versão
- Versão N/A postado em 2011-08-11
Várias correções e atualizações - Versão N/A postado em 2011-08-11
Detalhes do programa
- Categoria: Desenvolvimento > Outros
- Editor: freedata.sf.net
- Licença: Grátis
- Preço: N/A
- Versão: Array
- Plataforma: windows